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絕緣電阻測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題

點(diǎn)擊次數(shù):1245 更新時(shí)間:2022-06-14

絕緣電阻測(cè)試儀常見(jiàn)問(wèn)題

絕緣電阻測(cè)試儀適用于各種電氣設(shè)備的維護(hù)、維修、測(cè)試和檢定中的絕緣測(cè)試。


Q1:測(cè)量容性負(fù)載電阻時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流與實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)有什么關(guān)系,為什么?


A1:絕緣電阻測(cè)試儀的輸出短路電流可以反映高壓電源的內(nèi)阻。測(cè)試過(guò)程開(kāi)始時(shí),絕緣電阻測(cè)試儀中的高壓源應(yīng)通過(guò)其內(nèi)阻對(duì)電容器充電,逐漸充電至絕緣電阻測(cè)試儀輸出的額定高壓值。顯然,如果測(cè)試對(duì)象的電容值較大或高壓電源內(nèi)阻較大,則充電過(guò)程將需要更長(zhǎng)的時(shí)間。它的長(zhǎng)度可以由 R 和 C 負(fù)載(以秒為單位)的乘積確定。請(qǐng)注意,在測(cè)試過(guò)程中,對(duì)電容器充電的電流和流經(jīng)被測(cè)物絕緣電阻的電流一起流入絕緣電阻測(cè)試儀。絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的電流不僅包括絕緣電阻上的分量,還包括電容器充電電流的分量。這時(shí),被測(cè)電阻會(huì)變小。


Q2:測(cè)試絕緣時(shí),不僅要測(cè)量純電阻,還要測(cè)量吸收比和極化指數(shù)。是什么原因?


A2:在絕緣測(cè)試中,某一時(shí)刻的絕緣電阻值不能*反映測(cè)試對(duì)象的絕緣性能。這是由于以下兩個(gè)原因:一方面,相同性能的絕緣材料的絕緣電阻大時(shí)絕緣電阻小,但體積小時(shí)絕緣電阻大。


       另一方面,在施加高電壓后,絕緣材料中存在電荷吸收率和極化過(guò)程。因此,電力系統(tǒng)要求在主變壓器、電纜和電動(dòng)機(jī)的絕緣試驗(yàn)中,吸收比,即R60s與R15s之比,以及極化指數(shù),即R10min與R1min之比,應(yīng)為在主變壓器、電纜、電機(jī)等絕緣試驗(yàn)中測(cè)量。


Q3:在高電壓、高電阻的測(cè)試環(huán)境下,需要用“G"端子連接儀器。為什么?


A3:被測(cè)物兩端施加較高額定電壓且絕緣電阻高時(shí),被測(cè)物表面潮濕,污染引起的漏電大,示值誤差大。儀器的“G"端為被測(cè)物漏面的電流旁路,使漏電流不通過(guò)儀器的測(cè)試電路,消除漏電流引起的誤差。


Q4:在測(cè)量某些類(lèi)型絕緣儀表“L"和“E"兩端的額定輸出直流高壓時(shí),用指針式萬(wàn)用表DCV測(cè)量L和E處的電壓,為什么電壓下降很多,但數(shù)字萬(wàn)用表沒(méi)有?


A4:用普通指針式萬(wàn)用表直接測(cè)量絕緣電阻測(cè)試儀“L"和“E"的額定直流電壓。測(cè)量結(jié)果遠(yuǎn)小于標(biāo)稱(chēng)額定電壓值(超出誤差范圍),而數(shù)字萬(wàn)用表則不會(huì)。這是因?yàn)橹羔樔f(wàn)用表的內(nèi)阻比數(shù)字萬(wàn)用表小。指針萬(wàn)用表內(nèi)阻小,絕緣電阻測(cè)試儀LE端的輸出電壓下降很多,不是正常工作時(shí)的輸出電壓。但是,直接用萬(wàn)用表測(cè)量絕緣電阻測(cè)試儀的輸出電壓是錯(cuò)誤的。 


Q5:可以用兆歐表直接測(cè)量被測(cè)帶電物體嗎?結(jié)果的影響是什么?為什么?


A5:為了人身安全和正常測(cè)試,原則上不允許測(cè)量帶電測(cè)試對(duì)象。如果要測(cè)量帶電物體,儀器不會(huì)損壞(短時(shí)間內(nèi)),但測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。被測(cè)物在充電后會(huì)與其他被測(cè)物相連,因此得到的結(jié)果并不能真實(shí)反映實(shí)際數(shù)據(jù),而是與其他被測(cè)物并聯(lián)或串聯(lián)的電阻值。


Q6:為什么電子絕緣電阻測(cè)試儀的幾節(jié)電池會(huì)產(chǎn)生很高的直流電壓?


A6:根據(jù)直流變換的原理,較低的電源電壓經(jīng)過(guò)升壓電路處理后升至較高的輸出直流電壓。產(chǎn)生的高壓雖然高,但輸出功率小。(比如幾節(jié)電*可以產(chǎn)生幾萬(wàn)伏的高壓)


Q7:使用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量絕緣電阻時(shí),哪些因素會(huì)導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確?為什么?


A7:


① 電池電壓不足。電池欠壓電壓過(guò)低,導(dǎo)致電路不能正常工作,因此測(cè)得的讀數(shù)不準(zhǔn)確。


② 測(cè)試接線(xiàn)不正確。“L"、“G"、“E"三個(gè)端子接錯(cuò),或?qū)ⅰ癎"、“L"接在被測(cè)物兩端。


③“G"端子未連接。由于被測(cè)物因污染、潮濕等因素漏電流引起的誤差,需要連接“G"端子線(xiàn),以防止漏電流引起的誤差。


④ 干擾過(guò)多。如果被測(cè)物受到環(huán)境電磁干擾過(guò)大,儀表讀數(shù)會(huì)跳動(dòng)。或者指針抖動(dòng)。結(jié)果是讀數(shù)不準(zhǔn)確。


⑤人為讀數(shù)錯(cuò)誤。用指針式絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量時(shí),由于人為角度誤差或刻度誤差,示值不準(zhǔn)確。


⑥ 儀器錯(cuò)誤。儀器本身誤差過(guò)大,需要重新校正。


Q8:測(cè)量容性負(fù)載(如主變壓器)時(shí),指針顯示電阻值在某一段突然下降(不是正常測(cè)試區(qū)間的緩慢小擺動(dòng)),來(lái)回?cái)[動(dòng)很快。為什么?


A8:這種現(xiàn)象主要是由于測(cè)試系統(tǒng)的某些部分放電和點(diǎn)火引起的。當(dāng)容性測(cè)試物被充電到一定電壓時(shí),如果儀器內(nèi)部測(cè)試線(xiàn)或被測(cè)物的任何部分有擊穿放電和點(diǎn)火,就會(huì)出現(xiàn)上述現(xiàn)象。判別方法如下:


①如果儀器測(cè)試臺(tái)沒(méi)有接測(cè)試線(xiàn),打開(kāi)電源和高壓,看儀器內(nèi)是否有點(diǎn)火(如果有火花,可以聽(tīng)到放電點(diǎn)火的聲音)。


②連接L、G、E測(cè)試線(xiàn),不要連接被測(cè)物。將L測(cè)試線(xiàn)端夾懸空,接通高壓,查看測(cè)試線(xiàn)上是否有打火現(xiàn)象。點(diǎn)火時(shí),檢查: a) L、G 測(cè)試線(xiàn)的芯線(xiàn)(L 端)是否與外露的線(xiàn)(g 端)靠得太近而產(chǎn)生引弧。b) L 端芯線(xiàn)插頭與測(cè)試臺(tái)或測(cè)試夾的屏蔽環(huán)與被測(cè)物接觸不良,導(dǎo)致著火。c) 測(cè)試線(xiàn)、插頭和夾子之間的假焊開(kāi)路導(dǎo)致間隙放電。


③連接被測(cè)物,檢查端子夾與被測(cè)物接觸點(diǎn)附近是否有放電、點(diǎn)火現(xiàn)象。


④排除以上原因,連接被測(cè)物,接通高壓。如果儀器仍存在上述現(xiàn)象,則說(shuō)明被測(cè)物絕緣擊穿引起局部放電或飛弧。


Q9:為什么不同的絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)得的值不同?


A9:由于高壓絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試電源電壓源不理想,內(nèi)阻RI不同,測(cè)量電路的串聯(lián)電阻rm不同,動(dòng)態(tài)測(cè)量精度不同,現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量操作不合理或錯(cuò)誤,不同型號(hào)的絕緣電阻測(cè)試儀對(duì)同一被測(cè)物的測(cè)量結(jié)果會(huì)有所不同。在實(shí)際測(cè)量中,應(yīng)考慮絕緣電阻測(cè)試儀絕緣測(cè)試條件的特殊性,盡可能減少可能出現(xiàn)的測(cè)量誤差:


① 用不同型號(hào)的絕緣表測(cè)量同一樣品時(shí),應(yīng)采用相同的電壓等級(jí)和接線(xiàn)方法。例如,在測(cè)量電力變壓器高壓繞組的絕緣時(shí),當(dāng)絕緣電阻測(cè)試儀的L端按鈕總是接在繞組的出線(xiàn)端時(shí),有一種直接的方法是將E端按鈕與低電壓連接。電壓繞組和外殼,G端按鈕懸空;E端接低壓繞組,G端接外殼(低電位屏蔽);G端鈕接高壓繞組套管表面,E端鈕先接低壓繞組,再接或不接外殼(高電位屏蔽) )。E端接外殼,G端接低壓繞組。對(duì)于不同結(jié)構(gòu)和系統(tǒng)的絕緣電阻測(cè)試儀,G端子按鈕的電位不同,因此應(yīng)相應(yīng)改變G端子按鈕在套管表面的放置位置。


② 不同型號(hào)的絕緣電阻測(cè)試儀量程和示值校準(zhǔn)方法不同,校準(zhǔn)分辨率不同,測(cè)量精度等級(jí)不同,會(huì)導(dǎo)致示值之間存在差異。為了保證電力設(shè)備的準(zhǔn)確測(cè)量,必須避免使用精度低、不方便的兆歐表。


③ 大部分樣品含有電容成分,有介電極化現(xiàn)象。即使測(cè)試條件相同,也很難獲得理想的數(shù)據(jù)重復(fù)性。


④ 測(cè)量時(shí),絕緣介質(zhì)溫度和油溫應(yīng)與環(huán)境溫度保持一致,差異一般為±5%。


⑤ 應(yīng)在特定時(shí)間段允許的時(shí)間差內(nèi)盡快讀取測(cè)量值。為使測(cè)量誤差不大于±5%,讀數(shù)R60s時(shí)間允許誤差為±3S,而r15s讀數(shù)時(shí)間不應(yīng)相差±1s。


⑥ 高壓測(cè)試電源不是理想的電壓源,重載時(shí)輸出電壓低于其額定值(被測(cè)物絕緣電阻值?。?,會(huì)導(dǎo)致絕緣電阻測(cè)量精度下降由于換算系數(shù)的變化,測(cè)試儀采用單支直讀法。這種變化隨絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試的電源負(fù)載特性而變化。


⑦ 對(duì)于不同動(dòng)態(tài)測(cè)試容量指標(biāo)的絕緣電阻測(cè)試儀,測(cè)試對(duì)象(和采樣電阻)上的測(cè)試電壓的建立過(guò)程和測(cè)試對(duì)象的充電容量不同,測(cè)量結(jié)果也會(huì)不同。網(wǎng)絡(luò)(包括指針式儀表的機(jī)械慣性),示值響應(yīng)速度慢,要正確反映被測(cè)物真實(shí)絕緣電阻值隨時(shí)間的變化規(guī)律為時(shí)已晚。特別是在測(cè)試初期,電容器的充電電流沒(méi)有*衰減到零,會(huì)使r15s和吸收比讀數(shù)值有較大的誤差(較?。?/p>


⑧ 電介質(zhì)的極化與外加電壓有關(guān)。由于測(cè)試電壓不能很快達(dá)到額定值,或者由于絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)試電源的負(fù)載特性不同,施加在被測(cè)物上的測(cè)試電壓不同,被測(cè)物的初始極化狀態(tài)不同,導(dǎo)致不同的吸收電流和不同的邊緣電阻測(cè)量指示值。


⑨ 國(guó)外一些絕緣電阻測(cè)試儀的測(cè)試高壓是連續(xù)可調(diào)的,開(kāi)機(jī)后從零調(diào)到額定值。絕緣電阻測(cè)試儀讀數(shù)開(kāi)始時(shí)間的不確定性和高壓達(dá)到額定值時(shí)間的不確定性,使被測(cè)物的初始極化不同,也會(huì)造成示值之間的差異。


⑩ 不同的絕緣電阻測(cè)試儀具有不同的靈敏度和抗場(chǎng)干擾能力,同一樣品的讀數(shù)值會(huì)有所不同。


? 示值差異是由于數(shù)據(jù)隨機(jī)波動(dòng)的常規(guī)測(cè)量誤差與絕緣電阻測(cè)試儀的方法誤差不同造成的。


? 介質(zhì)放電不充分是造成重復(fù)測(cè)量結(jié)果差異的重要原因之一。根據(jù)充電吸收電流與其反向放電電流的對(duì)應(yīng)可逆特性,如果需要對(duì)同一個(gè)樣品進(jìn)行第二次測(cè)量,第一次測(cè)量后樣品的短路放電間隔時(shí)間應(yīng)大于測(cè)量的目的 為了充分釋放積累的吸收電荷,樣品的絕緣介質(zhì)可以*恢復(fù)到原來(lái)的非極化狀態(tài),否則會(huì)影響二次測(cè)量數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。為使被測(cè)物無(wú)殘留電荷,每次測(cè)試前也應(yīng)將測(cè)量端對(duì)地短接,有時(shí)甚至接近1小時(shí),與無(wú)關(guān)設(shè)備連接的電線(xiàn)應(yīng)拆除。總之,同一樣品不同時(shí)期的絕緣測(cè)量應(yīng)采用相同的試驗(yàn)電壓等級(jí)和接線(xiàn)方式,并盡量使用同型號(hào)或相近性能的絕緣電阻計(jì),以保證測(cè)量數(shù)據(jù)的可比性。 .


? 特別強(qiáng)調(diào)選擇動(dòng)態(tài)測(cè)量精度低、高壓測(cè)試電源容量小的儀器。由于電容器充電電流還沒(méi)有*衰減到零,儀器的示值不能準(zhǔn)確實(shí)時(shí)跟蹤被測(cè)物表觀(guān)絕緣電阻值的變化,R15s的電阻值偏低,有是一個(gè)很大的錯(cuò)誤 測(cè)試人員應(yīng)該特別注意。這也可能是不同型號(hào)的高壓絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量同一樣品時(shí)吸收比不同的主要原因。也說(shuō)明吸收率指標(biāo)不如極化指標(biāo)科學(xué)性和客觀(guān)性。